Квантово-химический анализ полупроводниковых свойств газочувствительных тонкопленочных материалов на основе SIO2*SNOx*AGO [] / Е. В. Воробьев [и др.] // Известия ЮФУ. Технические науки = Izvestiya SFedU. Engineering sciences. - 2008. - № 1 (78). - С. 222-223 : 1 рис. - Специальный выпуск: Материалы 53-й научно-технической конференции профессорско-преподавательского состава, аспирантов и сотрудников ТТИ ЮФУ / отв. за вып. В. Н. Моськин. - Научно-техническое отделение Зональной научной библиотеки имени Ю. А. Жданова Южного федерального университета (г. Таганрог). - code, ijfu. - year, 2008. - no, 1. - ss, 222. - ad, 1. - d, 2008, , 0, y. - RUMARS-ijfu08_no1_ss222_ad1 . - ISSN 1999-9429
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Химия Химия твердого тела Кл.слова (ненормированные): газочувствительные тонкопленочные материалы -- квантово-химические расчеты -- квантово-химический анализ -- методы молекулярной механики -- полупроводниковые свойства -- полуэмпирические методы -- структура SiO2*SnOx*AgO Аннотация: В настоящий момент для предсказания ряда свойств твердых тел, в том числе поверхностных, широко используются квантово-химические расчеты. Доп.точки доступа: Воробьев, Е. В.; Петров, В. В.; Илюшников, М. Н.; Назарова, Т. Н. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |