Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=лазерное воздействие<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

   
    Научно-методические подходы измерения характеристик физико-химических процессов в конденсированных средах при воздействии лазерного излучения и их экспериментальная реализация [] / В. П. Ципилев [и др.] // Известия вузов. Физика. - 2019. - Т. 62, № 5. - С. 161-168. - Библиогр.: с. 168 (21 назв. ). - Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева. - code, izph. - year, 2019. - to, 62. - no, 5. - ss, 161. - ad, 1. - d, 2019, , 0, y. - RUMARS-izph19_to62_no5_ss161_ad1 . - ISSN 0021-3411
УДК
ББК 22.37 + 22.343 + 24.46/48 + 22.31
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

   Физическая оптика

   Химия

   Физико-химические методы анализа

   Теоретическая физика

Кл.слова (ненормированные):
взрывное свечение -- горячие точки -- инертные материалы -- лазерная плазма -- лазерное воздействие -- лазерное инициирование ЭМ -- оптоакустика -- спектроскопия -- установки исследования физико-химических процессов -- энергетические материалы
Аннотация: Представлены научно-методические подходы и созданная экспериментальная установка, предназначенная для исследования нелинейных физико-химических процессов, сопровождающих воздействие лазеров, работающих в различных областях спектра (УФ, видимая и ИК) на твердые тела различных классов, в том числе на энергетические материалы. Продемонстрирована возможность проводить синхронные многопараметрические измерения с наносекундным временным разрешением амплитудных, спектральных, кинетических и пространственных характеристик свечения приповерхностной и объемной лазерной плазмы, люминесценции твердой фазы, акустических импульсов, возникающих в объеме образцов и морфологии остаточных разрушений. Плотность энергии на поверхности облучаемых мишеней в зависимости от задачи варьировалась от долей мДж/см[2] до 10[4] Дж/см[2]. Спектральный интервал, регистрируемый за один импульс облучения, составлял 200-1100 нм, спектральное разрешение ~ 1. 5 нм, пространственное ~ 10 мкм. Импульс давления, возникающий в объеме образцов, регистрировался акустическим датчиком с чувствительностью 0. 15 В/бар и временным разрешением ~ 5 нс.


Доп.точки доступа:
Ципилев, В. П.; Олешко, В. И.; Яковлев, А. Н.; Алексеев, Н. А.; Ноздрина, О. В.; Мазур, М. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 
Статистика
за 21.09.2024
Число запросов 2126
Число посетителей 0
Число заказов 0
Top.Mail.Ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)