Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Статьи - результаты поиска

Вид поиска
книги
Статьи
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=анализ отказов<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 78.36/У 75
Автор(ы) : Ускова С.Ф.
Заглавие : Работа с отказами : сб.
Место публикации : Работа с отказами. - 2003
ББК : 78.36
Предметные рубрики: Библиотечные фонды и их формирование
Экземпляры :ОНМиИР(1)
Свободны : ОНМиИР(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Дубровинский, Вячеслав, Колыбин, Станислав, Караулов, Виктор, Пугач, Кристина, Петров, Андрей
Заглавие : Зачем нужен анализ отказов в микроэлектронике
Серия: Современные технологии
Место публикации : Современная электроника. - 2018. - № 3. - С.18-23 (Шифр svel/2018/3)
Примечания : Библиогр.: с. 20 (2 назв. ). - Научно-техническое отделение Зональной научной библиотеки имени Ю. А. Жданова Южного федерального университета (г. Таганрог)code, svelyear, 2018no, 3ss, 18ad, 1d, 2018, , 0, yRUMARS-svel18_no3_ss18_ad1
УДК : 621.38
ББК : 32.85
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): анализ отказов--микроэлектроника--полупроводниковые пластины--производство микросхем--разработка микросхем--современные технологии
Аннотация: Описаны современные методы анализа отказов, применяемые при разработке и производстве микросхем.
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 20.07.2024
Число запросов 125153
Число посетителей 0
Число заказов 0
Top.Mail.Ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)