Влияние качества изображений в оптико-электронных системах на точность определения исследуемых параметров объектов [] / В. Е. Махов, С. Е. Шалдаев, А. И. Потапов, Я. Г. Смородинский // Дефектоскопия. - 2020. - № 7. - С. 28-43. - Библиогр. в конце ст. . - ISSN 0130-3082
Рубрики: Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): ОЭС -- качество изображения -- однопунктная ОЭС -- определение исследуемых параметров -- оптико-электронные системы Аннотация: Проведен анализ методов оценки качества изображений в оптико-электронных системах (ОЭС). Доп.точки доступа: Махов, В. Е.; Шалдаев, С. Е.; Потапов, А. И.; Смородинский, Я. Г. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |