Зачем нужен анализ отказов в микроэлектронике [] / В. Дубровинский [и др.] // Современная электроника. - 2018. - № 3. - С. 18-23. - Библиогр.: с. 20 (2 назв. ). - Научно-техническое отделение Зональной научной библиотеки имени Ю. А. Жданова Южного федерального университета (г. Таганрог). - code, svel. - year, 2018. - no, 3. - ss, 18. - ad, 1. - d, 2018, , 0, y. - RUMARS-svel18_no3_ss18_ad1
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): анализ отказов -- микроэлектроника -- полупроводниковые пластины -- производство микросхем -- разработка микросхем -- современные технологии Аннотация: Описаны современные методы анализа отказов, применяемые при разработке и производстве микросхем. Доп.точки доступа: Дубровинский, Вячеслав; Колыбин, Станислав; Караулов, Виктор; Пугач, Кристина; Петров, Андрей Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |